臺北市114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定複選二（觀察評量）時間地點及注意事項

通過資優鑑定複選評量一的學生得參加複選評量二（入班觀察評量），
通過名單請參閱附件

（一）施測日期：114/2/24(一)、2/25(二)、3/3(一)、3/6(四)、3/11(二)、 3/13(四)，共6天。
（二）報到時間：13:00至本校「輔導室特教組」報到簽名，13:10~15:30進行複選評量(二)。
（三）施測地點：胡適國小誠正樓(後棟左側)一樓創思教室（二），將有教師協助引導帶進教室。
（四）注意事項：
1.請準時參與，學生之缺課、遲到情形，均會列入紀錄。
2.請攜帶書寫文具(鉛筆、橡皮擦等)，測驗進行視個別需求可配戴口罩。
3.依據鑑定工作小組規定：為維護評量品質，複選【二】觀察評量缺課或請假至多以2次為限，缺課或請假超過2次者，視同放棄，且不得要求補行施測。
4.複選【二】評量無開放家長入校，請家長務必準時親自接送，以保障學童權益及安全，如有相關問題，請與輔導室特教組潘老師聯繫（27824949分機972）。
☆複選【一】評量通過名單已於114年1月8日（星期三）同步公告於臺北市教育局、臺北市資優教育資源中心及本校網頁最新消息。